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型號:WDX400

化工波長色散熒光多元素分析儀

描述:WDX400化工波長色散熒光多元素分析儀可配置10個固定分光道,同時分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可選)十種元素,是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 更新時間

    2024-04-30
  • 訪問量

    506
詳細介紹
品牌SKYRAY/天瑞儀器行業(yè)專用類型通用
元素分析范圍Na-U價格區(qū)間50萬-100萬
儀器種類臺式/落地式應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,石油,地礦,能源,冶金

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一、WDX400化工波長色散熒光多元素分析儀性能特點:

1.粉體樣品或塊樣品快速,非破損分析。

2.可快速分析粉末壓片,玻璃熔片和塊狀物料。

3.采用多路數(shù)字MCA實時檢測,大大提高元素檢測效率譜峰,不僅便于儀器調(diào)試和故障診斷,并可進一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。

4.配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。

5.與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點:

a、在較小功率和測定時間基本相當(dāng)?shù)那闆r下即可達到足夠的分析精度。

b、延長X光管使用壽命。

c、減少高壓電源故障。

d、降低整機維修成本。

e、采用固定通道,無測角儀磨損問題。

二、WDX400化工波長色散熒光多元素分析儀技術(shù)指標(biāo):

高壓電源:400W(50kv/8mA)。

X射線管:Varian公司生產(chǎn)的400W薄鈹窗端窗X射線管,Rh靶(Pd靶可選)。

管壓管流12小時穩(wěn)定度:優(yōu)于0.05%。

分析元素種類:從Na到U的任意十種元素。

探測器:流氣正比探測器+封閉正比探測器,10路1024道獨立脈沖高度分析器。

真空系統(tǒng):獨立泵站結(jié)構(gòu),易于維護。

測量室真空度:低于5Pa。

流氣系統(tǒng):高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度達到±0.003KPa。

前主放:高速前主放電路,大大提高儀器的探測效率,提高儀器的測量精度。

MCA多道:采用數(shù)字MCA多道幅度采集器,大大提高檢測效率。

交流220V供電設(shè)備:1KVA交流凈化穩(wěn)壓電流。

分析精度:σn-1(24小時,百分比含量)≤0.05%。

單個樣品測量時間:(含換樣抽真空時間)≤3~5分鐘。

恒溫室溫度控制精度:設(shè)定值±0.1℃。

三、應(yīng)用領(lǐng)域:

建材(水泥、玻璃、陶瓷等)鋼鐵 有色金屬 礦業(yè) 地質(zhì) 化工 石油 質(zhì)量檢驗 商品檢驗

檢測原理:

物質(zhì)樣品中有多種元素存在的情況下,當(dāng)樣品受到X光管發(fā)出的初級X射線照射時,各種被測元素發(fā)出各自的特征X射線,統(tǒng)稱X熒光。將這些元素的特征X射線分開和檢測稱為X熒光的分光。

由于不同元素特征X射線的波長不同,根據(jù)布拉格公式采用晶體衍射技術(shù)即可將不同波長的X射線分光。此種分光方法稱作波長色散法。

布拉格公式:

2dSinθ=nλ……………………(1)

上式中d為分光晶體的晶面間距,θ為衍射角,λ為波長,n為衍射級數(shù)。一般情況下均檢測一級衍射線,即n=1。據(jù)此公式,分光晶體選定后(即2d已確定)對某一波長λ的某一元素的特征X射線,只有在符合上式的θ角可以檢測到,而其他元素的特征X射線由于其波長λ不符合上述公式,因此該θ角度方向檢測不到。分光晶體可以是平面晶體,此時采用平行板準(zhǔn)直器將樣品的X熒光變成平行光投射到晶體上,稱作平行分光法;也可采用具有聚焦作用的曲面晶體(彎晶)進行分光,稱作聚焦分光法(尤其適合原子序數(shù)較小的輕元素)。圖1-2兩種分光系統(tǒng)的原理圖。

圖片1.png

特征X射線的波長是與元素種類一一對應(yīng)的,依靠波長色散將物質(zhì)樣品X熒光中不同波長的特征X射線分開并檢測,就可以確定物質(zhì)中含有哪些元素,實現(xiàn)物質(zhì)中所含元素種類的定性分析。

另一方面,各元素特征X射線的強度(單位時間內(nèi)特征X射線的光子數(shù))則與該樣品中各元素的百分含量成正比,即樣品中某元素含量愈高,則其發(fā)出的特征X射線的光子數(shù)/秒愈多,即滿足下述公式:

Ci=AiIi+Bi……………………(2)

其中Ci為第i種元素(或其化合物)的含量百分比,Ii為檢測到的該元素的特征X射線強度,常數(shù)Ai和Bi則通過標(biāo)樣檢測制作工作曲線確定,Ai為工作曲線的斜率,Bi為工作曲線截距。用標(biāo)樣制作工作曲線的過程稱作儀器的標(biāo)定。標(biāo)定過程中,對一組含量已知的標(biāo)樣進行檢測,對某一元素i而言,標(biāo)樣中該元素的含量Ci已知,特征X射線強度Ii通過分光檢測得到,測定若干個標(biāo)樣后通過線性擬合,即可計算出(2)式中每種元素的工作曲線的斜率Ai和截距Bi。完成標(biāo)定后,即可通過檢測未知樣品中各被測元素特征X射線的強度,根據(jù)(2)式計算出該未知樣品中各被測元素的含量,實現(xiàn)未知樣品的定量分析。

實際上,某一元素的特征X射線強度還受到其它元素原子的吸收和增強作用的影響,這種原子間的吸收和增強作用稱作基體效應(yīng)。由于基體效應(yīng)的存在,某一元素的特征X射線強度并非只與該元素的含量有關(guān),也在一定程度上受到其它元素含量的影響,也就是說(2)式中的Ai、Bi并非常數(shù),公式(2)應(yīng)修改成公式(3)

Ci=AijI+Bij………………(3)

其中Aij=Ai(kijCj+1)+Bi(kijCj+1)………………(4)

公式(4)為一組多元一次聯(lián)立方程式,其中kij和kij表示元素j對被測元素i的基體校應(yīng)影響因子。為了求解(3)式和(4)式,經(jīng)過國際X熒光分析界幾代人的努力,大致有以下幾種典型方法:

1. 經(jīng)驗系數(shù)法:通過測定一定數(shù)量的一組標(biāo)樣(該組標(biāo)樣的元素含量應(yīng)打破相關(guān)性),采用非線性最小乘法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)數(shù)學(xué)模型等各種多次疊代的數(shù)學(xué)方法求解,作出工作曲線。

采用經(jīng)驗系數(shù)法的定量分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠,使用較為廣泛。但是為了提高儀器標(biāo)定的準(zhǔn)確性,一般需要較多的標(biāo)樣,而且被分析的元素(或化合物)種類愈多,需要的標(biāo)樣數(shù)量就愈多。

2. 基本參數(shù)法:根據(jù)儀器的有關(guān)參數(shù)和元素原子間基體效應(yīng)的基本數(shù)據(jù)等依靠理論計算和對純元素(或純化合物)試劑的測定求取(5)式中的影響因子,實現(xiàn)定量分析。由于儀器結(jié)構(gòu)變化等種種原因,此種方法的定量精度尚不夠高,一般用于無標(biāo)樣時作半定量分析。

3. 理論α系數(shù)法:此法介于上述兩種之間,現(xiàn)已日趨成熟并已實用化,在X熒光光譜儀和采用半導(dǎo)體探測器的較高檔的X熒光能譜儀中,均已做成定量分析軟件普遍采用。采用此種定量分析方法顯著的優(yōu)點是可以大大減少儀器標(biāo)定用的標(biāo)樣數(shù)目,一般用3—5個標(biāo)樣即可實現(xiàn)正確的多元素定量分析。從而大大的減少了標(biāo)樣制作和分析的工作量及費用,特別是在環(huán)保、生物試體分析等制作標(biāo)樣十分困難的應(yīng)用領(lǐng)域,不可能采用需要眾多標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法,理論α系數(shù)法具有廣闊的應(yīng)用前景。










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